장비 정보
보유 장비정보를 안내해드립니다
| 기기명 (한글) | 탐침형 원자 현미경 |
|---|---|
| 기기명 (영문) | Scanning Probe Microscope (AFM/SPM) |
| 모델명 | Multimode+ NanoScope8 Controller Ver+ SThM |
| 제작사 | Bruker Nano Surfaces (USA) |
| 도입시기 | 2021년 9월 |
| 설치장소 | 서울센터 / K012 |
| 담당자 | 02-320-3281 |
| 이용시간 | 1시간 |
| 규격 |
(1) Scanning Probe Microscopy to measure surface characteristics such as Topography, Electrical, Magnetic properties and Scanning Thermal Microscopy(SThM)
(2) Direct Force Control Imaging (50pN or less) providing high resolution and non-destructive imaging (3) Vertical resolution : 0.01nm or less (4) Lateral resolution : 0.1nm or less (5) Data pixel : Mode than 5012 x 5012 for 8 channels. or more (6) SThM Temperature resolution : Less than 0.1℃ , depending on probe type |
사용료
| 장비명 | 단위 | 내부 | 외부 |
|---|---|---|---|
| Surface | 시간(분)당 | 25,000 | 50,000 |